Soi cmosデバイスで発生する放射線誘起パルスノイズsetの解析モデル pdf

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in SOI CMOS Logic D. Kobayashi, K. Hirose, H. Ikeda, and H. Saito Institute of Space and Astronautical Science Japan Aerospace Exploration Agency ソフトエラー(などのLSIにおける放射線効果)に 関する第1回勉強会(京都)2011年9月7--8日 Most part of this material is presented in an invited talk at

第27 回(2009 年秋季)応用物理学会講演奨励賞,soi cmos デバイスで発生する放射線誘起パルスノイズset の解析モデル,応用物理学会 2010.3.17 佐々木 進 宇宙情報・エネルギ ー工学研究系 平成21 年度科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞 2009.4

[Presentation] SOI CMOSデバイスで発生する放射線誘起パルスノイズSETの解析モデル 2009. Author(s) 小林大輔, 他 ...

soi cmosデバイスで発生する放射線誘起パルスノイズsetの解析モデル (宇宙研:廣瀬和之) 沼田 達宏 (名大院工,sorst-jst) 半導体a(シリコン) 8p-tb-5

放射線が論理回路に当たるとパルス状のノイズが発生し回路が誤動作してしまう.このノイズパルスをSETパルスと呼び,対策のためにその波形を明らかにする必要がある.そのための手法を提案し,半導体製造技術の一つである完全空乏型SOI技術で作成した論理回路に適用して,そこで発生するSET ...

Fundamental matters regarding SOI devices, such as a kind of SOI substrates, features of SOI CMOS structures, and two kinds of operation modes in SOI MOSFETs,i.e., fully-depleted and partially-depleted modes, are explamed, and the reason why CM0S/SOI is effective for low-power and high-speed LSIs is described. Floating body effects in SOI MOSFFTs and some proposed methods to prevent the ...

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